Keithley

Keithley

Keithley, obecnie część Tektronix i rodziny firm Fortive, jest producentem precyzyjnych instrumentów elektronicznych do pomiaru z historią sięgającą 1946 roku. Założona w Cleveland w Ohio, Keithley zbudowała swoją reputację na pomiarach elektrycznych niskiego poziomu — przechwytując prąd, napięcie, opór i ładunek przy czułościach znacznie wyższych niż uniwersalne instrumenty. Marka jest szczególnie ceniona w środowiskach badawczo-rozwojowych, gdzie dokładna charakterystyka urządzeń półprzewodnikowych, materiałów i zjawisk nanofalowych jest niezbędna.

Portfolio produktów Keithley obejmuje jednostki do pomiaru źródła (SMU), multimetry cyfrowe wysokiej rozdzielczości, elektrometry, pikoamperometry, nanowoltometry, systemy akwizycji danych i akcesoria przełączające/skanujące. Ich instrumenty stanowią kręgosłup parametrycznego testowania półprzewodników, laboratoriów charakteryzacji komponentów i zautomatyzowanych systemów testowych stosowanych w całej produkcji elektroniki i badaniach.

Główne linie produktów

• Jednostki do pomiaru źródła (SMU) — łączą precyzyjny sourcing napięcia/prądu i pomiar do śledzenia krzywych IV i charakterystyki urządzenia
• Multimetry cyfrowe — instrumenty rozdzielczości 6,5- i 7,5-cyfrowej do precyzyjnego pomiaru na ławce i pomiaru systemu
• Elektrometry i pikoamperometry — pomiary ultraniskiego prądu do poziomów femtoamperowych dla badań materiałów i urządzeń
• Systemy akwizycji danych i przełączania — skanowanie wielokanałowe i routing sygnału do zautomatyzowanych ustawień testowych
• Zasilacze DC — precyzyjne zasilacze na ławce do aplikacji testów laboratoryjnych i komponentów

Branże obsługiwane

Instrumenty Keithley są używane przez producentów półprzewodników, uniwersyteckie i rządowe laboratoria badawcze, twórców ogniw słonecznych i fotowoltaiki, badaczy nanotechnologii i zespoły badawczo-rozwojowe elektroniki. Kluczowe aplikacje obejmują charakterystykę urządzeń półprzewodników, testowanie ogniw fotowoltaicznych, pomiar impedancji i oporności, oraz zautomatyzowany test produkcji dla komponentów elektronicznych pasywnych i czynnych.