Mierniki LCR

Mierniki LCR to precyzyjne przyrządy pomiarowe zaprojektowane do pomiaru trzech podstawowych pasywnych właściwości elektrycznych: indukcyjności (L), pojemności (C) i oporu (R). Poprzez zastosowanie sygnału testowego AC przy określonej częstotliwości i analizę odpowiedzi urządzenia, przyrządy te określają impedancję i parametry pochodne, w tym ESR (równoważny opór szeregowy), współczynnik Q, D (współczynnik stratności) i kąt fazowy. Mierniki LCR są niezbędne do charakteryzacji elementów pasywnych — rezystorów, kondensatorów, cewek, transformatorów i rdzeni ferrytowych — w warunkach zbliżonych do rzeczywistych.

Przyrządy obejmują przenośne urządzenia ręczne do użytku w warsztacie oraz precyzyjne modele ścienne pokrywające zakresy od poniżej hercowego do kilku megaherców. Zaawansowane modele zawierają wbudowane źródła polaryzacji DC do testowania elementów w warunkach nominalnych, kompensację oprawy do eliminacji błędów impedancji przewodów oraz wyjścia sortowania dla zautomatyzowanego segregowania. Osprzęt testowy do elementów i akcesoria sondowania SMD rozszerzają ich zastosowanie na zautomatyzowane testowanie w liniach produkcyjnych.

Typowe zastosowania

Kontrola elementów przychodzących i weryfikacja towarów w produkcji elektroniki
Charakteryzacja elementów pasywnych SMD i segregacja w zautomatyzowanych liniach produkcyjnych
Charakteryzacja transformatorów i cewek w elektronice energetycznej R&D
Projektowanie filtrów i weryfikacja obwodów rezonansowych w inżynierii telekomunikacyjnej
Analiza uszkodzeń i kontrola jakości kondensatorów, ferrytów i rdzeni magnetycznych
Ocena elementów piezoelektrycznych i urządzeń MEMS dla sektorów medycznego i motoryzacyjnego

Popularne marki

Keysight Technologies oferuje kompleksowe portfolio od ściennych mierników LCR do precyzyjnych analizatorów impedancji, z szerokim zakresem dedykowanych opraw testowych dla elementów SMD i przez-otworowych. Hioki produkuje szybkie i dokładne przyrządy szeroko stosowane w azjatyckim produkcje elektroniki. Wayne Kerr specjalizuje się w rozwiązaniach do charakteryzacji elementów o wysokiej częstotliwości i wysokim napięciu.