Aplikacja testowania podwójnego impulsu SiC GaN szerokopasmowych Tektronix SUP5-WBG-DPT
Tektronix SUP5-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN Double Pulse Test Application
Aplikacja testowania podwójnego impulsu Tektronix SUP5-WBG-DPT do charakteryzacji i analizy szerokopasmowych urządzeń półprzewodnikowych SiC i GaN na oscyloskopach serii MSO 5.
Szczegóły produktu
| Model | SUP5-WBG-DPT |
| Producent | Tektronix |
| Kategoria | Akcesoria oscyloskopowe |
| Dostępność | Na zamówienie |
Opis
Przegląd
Tektronix SUP5-WBG-DPT to aplikacja pomiarowa zaprojektowana dla platformy oscyloskopu MSO 5 Series, umożliwiająca kompleksową charakteryzację szerokopasmowych (WBG) urządzeń półprzewodnikowych, w tym komponentów węglika krzemu (SiC) i azotku galu (GaN). Metodologia testowania podwójnego impulsu (DPT) zapewnia dokładną ocenę wydajności urządzenia, zachowania przełączającego i cech termicznych niezbędnych do rozwoju elektroniki mocy.
Kluczowe cechy
- Metodologia testowania podwójnego impulsu dla kompleksowej charakteryzacji urządzenia
- Obsługa szerokopasmowych urządzeń półprzewodnikowych SiC i GaN
- Zintegrowane narzędzia analityczne do zachowania przełączającego i metryk wydajności
- Bezproblemowa integracja z platformą oscyloskopu MSO 5 Series
Aplikacje
- Charakteryzacja i walidacja szerokopasmowych urządzeń półprzewodnikowych
- Rozwój konwerterów i inwerterów mocy
- Ocena wydajności urządzenia przełączającego
- Badania i rozwój elektroniki mocy
Specyfikacja
| Application Type | Double Pulse Test (DPT) |
| Compatible Devices | SiC and GaN Wide-Bandgap Semiconductors |
| Compatible Platform | MSO 5 Series Oscilloscopes |
| License Type | NL (Non-Limited) |
Poproś o wycenę
Aplikacja testowania podwójnego impulsu SiC GaN szerokopasmowych Tektronix SUP5-WBG-DPT