Keysight B2910CL Jednostka pomiarowa źródła

Przegląd

Keysight B2910CL to precyzyjna jednostka pomiarowa źródła z jednym kanałem przeznaczona do dokładnych i wszechstronnych zastosowań w testowaniu elektroniki. Zapewnia zakres wyjściowy do ±210 V i ±1,5 A DC z rozdzielczością pomiaru do 10 fA dla prądu i 100 nV dla napięcia, umożliwiając szczegółową charakteryzację typowo dostępną w wysokowydajnych analizatorach urządzeń półprzewodnikowych. Zintegrowana czterokwadrantowa generacja napięcia i prądu upraszcza pomiary IV, eliminując potrzebę dla wielu instrumentów i złożonych konfiguracji.

Jednostka ta zawiera intuicyjny, 4,3-calowy kolorowy interfejs graficzny z wieloma trybami wyświetlania – wyświetlaniem pojedynczym i wykresem – umożliwiając użytkownikom szybką konfigurację testów, wizualizację danych i interaktywną analizę urządzenia bezpośrednio z panelu czołowego. Wbudowane możliwości skanowania oferują skanowanie liniowe, logarytmiczne i niestandardowe listy z maksymalnie 100 000 krokami, wspierające kompleksową charakteryzację wielu elementów elektronicznych. Szybkie pobieranie próbek do 20 000 punktów na sekundę wydajnie rejestruje zjawiska przejściowe i zachowania o niskiej częstotliwości.

Kluczowe funkcje

• Konfiguracja z jednym kanałem z końcówkami złącze bananowe
• Maksymalne wyjście 210 V, możliwość prądu 1,5 A DC
• Rozdzielczość pomiaru 6,5 cyfry z precyzją 10 fA/100 nV
• Zintegrowane możliwości pozyskiwania i pomiaru czterokwadrantowego
• Wyświetlacz kolorowy LCD 4,3 cala z trybami wyświetlania pojedynczego i wykresu
• Generacja arbitralnych przebiegów z maksymalnie 100 000 programowalnych kroków
• Możliwość digitalizacji 20 000 punktów na sekundę
• Obsługa trybu testowania limitów i szybkiego przejścia
• Łączność USB 2.0, LAN, GPIB i cyfrowy I/O

Zastosowania

• Charakteryzacja urządzeń półprzewodnikowych i analiza krzywej IV
• Testowanie komponentów optycznych (diody laserowe, fotodiody)
• Testowanie urządzeń organicznych (OLEDy)
• Charakteryzacja ogniw fotowoltaicznych
• Testowanie IC zarządzania zasilaniem
• Testowanie komponentów dyskretnych (tranzystory, diody, rezystory)
• Zastosowania badawcze i rozwojowe

Dołączone akcesoria

• Jednostka pomiarowa źródła B2910CL
• Kabel zasilający
• Kabel USB
• Przewodnik szybkiego startu (angielski)