Instrument SourceMeter Keithley KTH 2470

Przegląd

Keithley KTH 2470 SourceMeter Instrument to jednostka pomiaru źródła nowej generacji (SMU), która łączy precyzyjną możliwość pomiaru do 1100V, 1A, 20W z intuicyjnym interfejsem dotykowego ekranu pojemnościowego. Zoptymalizowany do charakteryzacji i testowania urządzeń o wysokim napięciu i niskich wyciekach, takich jak węglik krzemu (SiC), nitrku galu (GaN), MOSFET-y mocy i moduły mocy, 2470 wykorzystuje dziesięciolecia doświadczenia Keithley do dostarczenia zarówno precyzji, jak i łatwości obsługi w środowisku laboratoryjnym i w stelażu testowym.

Kluczowe cechy

• 0,012% dokładność pomiaru podstawowego z rozdzielczością 6½ cyfr
• Maksymalna możliwość 1100V / 1A DC z rozdzielczością pomiaru 10 fA
• Pięciocalowy kolorowy ekran dotykowy pojemnościowy ze strukturą menu opartą na ikonach
• Czterokwadrantowa operacja źródła i zanurzenia
• Wiele trybów programowania: skrypty TSP i zgodność SCPI 2450
• Wbudowana kontekstowa pomoc zmniejszająca kroki konfiguracji o 50%
• Przednie banany gniazda i trójaksowe połączenia panelu tylnego
• Kompleksowa łączność: GPIB, USB 2.0, LXI/Ethernet, cyfrowe we/wy D-sub 9-pin

Zastosowania

• Charakteryzacja urządzeń półprzewodnikowych węglika krzemu (SiC) i nitru galu (GaN)
• Testowanie MOSFET-u mocy i urządzeń tłumienia przejściowego
• Ocena urządzeń ochrony obwodów i modułów mocy
• Testowanie baterii i materiałów z wymogami wysokiego napięcia i niskiego wycieku
• Charakteryzacja I-V i testowanie parametryczne urządzenia

Akcesoria w zestawie

• Wysokowydajne przewody testowe
• Kabel USB Type B do Type A
• Złącze matki blokady bezpieczeństwa CS-1616-3
• Kabel CA-180-3A TSP-Link/Ethernet
• Przewodnik szybkiego startu i dokumentacja do pobrania